Stage ingénieur : Développement d’une méthodologie de simulation et de corrélation des émissions CISPR 25 (H/F)

Contexte

Chez NXP, la conformité aux exigences CEM constitue un élément clé du développement des circuits intégrés destinés aux marchés automobile, industriel et IoT. Les émissions conduites et rayonnées sont évaluées conformément à la norme CISPR 25 afin de garantir l'intégration des composants dans des systèmes électroniques de plus en plus complexes.

Aujourd’hui, les performances CEM sont principalement évaluées à partir de mesures réalisées sur silicium et cartes d’évaluation. Cependant, la possibilité de prédire ces performances dès les phases de conception grâce à la simulation représente un enjeu majeur pour réduire les cycles de développement, limiter les itérations de validation et améliorer le taux de réussite « first pass ».

Dans ce contexte, l’équipe EMC/ESD souhaite développer une méthodologie de simulation des émissions CISPR 25 corrélée aux résultats expérimentaux. L'objectif est de construire un flot de simulation robuste permettant d'anticiper les risques CEM dès les premières phases de conception des circuits intégrés.

Mission

Au sein de l'équipe EMC/ESD de Toulouse, vous participerez au développement d'une méthodologie innovante de prédiction des émissions CISPR 25.

Vos principales missions seront :

Réaliser un état de l'art des méthodes de simulation et de modélisation des émissions CEM.

Étudier les mécanismes générateurs d'émissions conduites et rayonnées au niveau composant et système.

Développer des modèles de simulation représentatifs des principaux chemins d'émission (circuit intégré, PCB, alimentation, câblage, composants passifs).

Mettre en place un flot de simulation permettant d'estimer les performances CISPR 25.

Comparer les résultats de simulation avec les mesures réalisées en laboratoire EMC.

Identifier les paramètres les plus influents dans la corrélation simulation/mesure.

Définir des critères de validation et des recommandations pour l'utilisation de la méthodologie.

Documenter les travaux et présenter les résultats aux équipes de conception et d'expertise CEM.

Profil recherché

Élève ingénieur ou étudiant en Master 2 (Bac+5) avec une spécialisation en :

Électronique analogique ou RF

Compatibilité électromagnétique (CEM)

Électromagnétisme appliqué

Modélisation et simulation de systèmes électroniques

Compétences souhaitées

Bonnes connaissances en électronique analogique et numérique.

Connaissances de base en compatibilité électromagnétique.

Expérience avec des outils de simulation (SPICE, ADS, CST, HFSS ou équivalent).

Capacité d'analyse et de traitement de données.

Curiosité scientifique, autonomie et esprit d'initiative.

Un bon niveau d'anglais est requis dans un contexte de collaboration internationale.

Context

NXP develops advanced automotive and industrial semiconductor solutions where EMC compliance is a key product requirement. Conducted and radiated emissions according to CISPR 25 are routinely evaluated during product development and qualification.

Today, several simulation approaches exist to estimate emission levels at IC and board level. However, achieving accurate correlation between simulation results and laboratory measurements remains a significant challenge. A robust and validated methodology would enable earlier EMC risk detection, reduced laboratory iterations, and improved first-pass success.

In this context, the intern will join the EMC/ESD team to develop a correlation methodology between CISPR 25 emission simulations and laboratory measurements. The objective is to establish a reliable signoff flow applicable during the design phase of automotive and industrial integrated circuits and evaluation boards.

The internship will be located at NXP in Toulouse.

Your Responsibilities

During this internship, you will participate in the development of a fast and accurate EMC prediction methodology for CISPR 25 emissions.

The intern will develop:

A review of existing CISPR 25 simulation and measurement methodologies.

A simulation flow for conducted and/or radiated emission prediction.

Models for critical emission paths (IC, PCB, cables, passive components).

A correlation methodology between simulation results and laboratory measurements.

Identification of dominant parameters impacting prediction accuracy.

Guidelines and best practices for simulation signoff criteria.

Validation through case studies on representative NXP products and evaluation boards.

A technical report documenting the methodology, correlation results, limitations, and recommendations.

Your Profile

Education level: Final year engineering student or Master's degree (Bac+5)

Knowledge and skills:

Electromagnetics / EMC

Analog and mixed-signal electronics

Circuit and system simulations

RF measurements and instrumentation

Data analysis and modeling

A good level of English is required, working within an international multi-site team.

More information about NXP in France...

#LI-3842